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SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法

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poetbox 发表于 2021-4-12 18:21 | 显示全部楼层 |阅读模式
半导体集成电路 串行外设接口测试方法(SJ/T 11702-2018),半导体集成电路 串行外设接口测试方法(SJ/T 11702-2018)是在2018-02-09发布,在2018-04-01开始实施。
本标准文件共有12页。
SJ_T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法.pdf (8.6 MB)
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f034f3z0d7 发表于 2021-12-16 10:34 | 显示全部楼层
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q1172233656 发表于 2022-1-15 12:09 | 显示全部楼层
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156617509 发表于 2024-12-3 20:17 | 显示全部楼层
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