本标准为SJ 20438-1994,标准的中文名称为红外探测器用碲锡铅晶片测试方法,标准的英文名称为Methods for measurement of lead tin telluride slice for use in infrared detector,本标准在1994-09-30发布,在1994-12-01开始实施。
本规范规定了红外探测器用碲锡铅(Pb(1-k)S(nx)T(e))单晶片的电学参数、结构参数和组分的测试方法。本标准适用于红外探测器用碲锡铅外延衬底用单晶片的性能检测和评定,也适用于碲化铅和碲锡铅外延膜位错腐蚀坑的检测。
本标准文件共有11页。 SJ 20438-1994 红外探测器用碲锡铅晶片测试方法.pdf(1.88 MB)