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SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

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Adamm789 发表于 2021-4-12 02:24 | 显示全部楼层 |阅读模式
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法（SJ/T 11703-2018），数字微电子器件封装的串扰特性测试方法（SJ/T 11703-2018）是在2018-02-09发布，在2018-04-01开始实施。
本标准文件共有8页。
 SJ_T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法.pdf (5.07 MB)
器件, 微电子, 电子

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gasdg 发表于 2022-2-7 23:56 | 显示全部楼层
强强强强
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qq4 发表于 2022-7-20 11:47 | 显示全部楼层
感谢分享~
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