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SJ/T 11042-1996 电子玻璃体积电阻率为100MΩ.cm时的温度Tk-100测试方法

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f1294372987 发表于 2021-12-8 17:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
电子玻璃体积电阻率为100MΩ.cm时的温度Tk-100测试方法(SJ/T 11042-1996),该标准的归口单位为无,英文名为Test method for temperature (Tk-100) while volume resistivity of electronic glass is 100MΩ·cm。
电子玻璃体积电阻率为100MΩ.cm时的温度Tk-100测试方法(SJ/T 11042-1996)是在1996-11-20发布,在1997-01-01开始实施。
本标准适用于电子玻璃体积电阻率为100MΩ·cm时的温度。(T(K-100))的测试。
本标准文件共有4页。
SJ_T 11042-1996 电子玻璃体积电阻率为100MΩ.cm时的温度Tk-100测试方法.pdf (676.19 KB)
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1275428773 发表于 2021-12-15 19:24 | 显示全部楼层
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z1337997533 发表于 2022-1-13 11:58 | 显示全部楼层
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QQ1577467338 发表于 2024-11-23 14:09 | 显示全部楼层
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