GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法:一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法（GB/Z 21738-2008），该标准的归口单位为全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会，英文名为Fundamental structures of one dimensional nanomaterials. High resolution electron microscopy characterization。
一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法（GB/Z 21738-2008）是在2008-05-08发布，在2008-11-01开始实施。
被标准 替代。
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理,术语和定义,仪器和设备,样品制备,测量程序,结果表示以及试验报告等。
本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构,元素组分,截面及界面原子排布等。
本标准文件共有9页。
GB_Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法.pdf