YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法:工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法（YS/T 666-2008），该标准的归口单位为全国有色金属标准化技术委员会，英文名为Chemical analysis methods of gallium for industrial use. Determination of impurity elements. Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method。
工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法（YS/T 666-2008）是在2008-03-12发布，在2008-09-01开始实施。
本标准规定了工业稼中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
本标准适用于工业稼[99.9%≤ω(%)≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
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