本标准为JB/T 7777.2-2008，标准的中文名称为银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分:EDTA容量法测定铟量，标准的英文名称为Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material. Part 2etermination of indium，本标准在2008-02-01发布，在2008-07-01开始实施。
JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定方法。
本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中铟质量分数的测定。测定范围：1.00%～5.00%。
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etermination of indium，本标准在2008-02-01发布，在2008-07-01开始实施。
JB_T 7777.2-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分_EDTA容量法测定铟量.pdf