YB/T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法:本标准为YB/T 172-2000，标准的中文名称为硅砖定量相分析 X射线衍射法，标准的英文名称为Phase quantitative analysis of silica bricks. X-ray diffraction method，本标准在2000-07-26发布，在2000-12-01开始实施。
本标准规定了硅砖X射线定量相分析的定义、原理、仪器设备、标样、试样制备、定量分析、试验报告。本标准适用于硅砖中鳞石英、方石英及残余石英的定量分析。
本标准文件共有8页。
YB_T 172-2000 硅砖定量相分析 X射线衍射法.pdf