JB/T 9499.7-1999 康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量:康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量（JB/T 9499.7-1999），该标准的归口单位为仪表功能材料标准化技术委员会，英文名为Method for chemical analysis of constantan resistance alloy The molybdosilicate blue photometric method for the deternination of silicon content。
康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量（JB/T 9499.7-1999）是在1999-08-06发布，在2000-01-01开始实施。
本标准适用于康铜电阻合金中硅量的测定。测定范围:0.010%～0.12% 。
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