JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性 测量方法:本标准为JB/T 9495.7-1999，标准的中文名称为光学晶体光学均匀性 测量方法，标准的英文名称为Measuring method for optical homogeneity of optical crystal，本标准在1999-08-06发布，在2000-01-01开始实施。
本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量,测量折射率微差的精度为:△7＝±1×10-⒍
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JB_T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性 测量方法.pdf