JB/T 9495.2-1999 光学晶体折射率 测量方法:本标准为JB/T 9495.2-1999，标准的中文名称为光学晶体折射率 测量方法，标准的英文名称为Measuring method for refractive index of optical crystals，本标准在1999-08-06发布，在2000-01-01开始实施。
本标准适用于利用V梭镜方法测I光学晶体的折射率。测量谱线为d,D,C,F,r,e,g,h八种谱线,测量情度:Δn＝±3×10－5.
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JB_T 9495.2-1999 光学晶体折射率 测量方法.pdf