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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ_T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法.pdf

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SJ_T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法.pdf

 

SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法:
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法(SJ/T 11706-2018),半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法(SJ/T 11706-2018)是在2018-02-09发布,在2018-04-01开始实施。
本标准文件共有32页。

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