SJ 20348-1993 低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法:低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法（SJ 20348-1993），该标准的归口单位为中国电子技术标准化研究所，英文名为Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes。
低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法（SJ 20348-1993）是在1993-05-11发布，在1993-07-01开始实施。
本标准规定了在天线测试场内,对低副辧平板裂缝天线(以下简称为天线)的方向图、增益等性能远场测试方法。本标准适用于副辧平优于-25dB的线极化平板裂缝天线的性能远场测试,对由非波导裂缝的其他辐射单元所组成的,具有一般副辧平、低副辧电平的线极化平面阵列天线性能远场测试亦可参照使用。
本标准文件共有14页。
SJ 20348-1993 低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法.pdf