SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法:金属镀覆层厚度测量方法（SJ 20129-1992），该标准的归口单位为中国电子技术标准化研究所，英文名为Methods for measurement of metallic coating thickness。
金属镀覆层厚度测量方法（SJ 20129-1992）是在1992-11-19发布，在1993-05-01开始实施。
本标准规定了用横断面显微镜法、称量法、阳极溶解库仑法、X射线光谱法和B反向散射法等测量金属镀覆层厚度的方法。本标准适用于电子元器件引线及其它类似产品金属镀覆层厚度的测量。
本标准文件共有25页。
SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法.pdf