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EJ_T 1184-2005 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定.pdf

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EJ/T 1184-2005 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定:

贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定（EJ/T 1184-2005），该标准的归口单位为核工业标准化研究所，英文名为Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method。
贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定（EJ/T 1184-2005）是在2005-04-11发布，在2005-07-01开始实施。
本标准规定了分光光度法测定贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定,其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。当取样量为0.25g四氟化铀时,硅的测定范围为

10～120)μg/g。在测量范围内,40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定。
本标准文件共有5页。

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