SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法:本标准为SJ/T 11405-2009，标准的中文名称为光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法，标准的英文名称为Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications. Part 2:Measuring methods，本标准在2009-11-17发布，在2010-01-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 62007-2-1999,IDT。
本部分规定了用于光纤系统/子系统的半导体光电子器件(以下简称“器件”)的测量方法。
本标准文件共有50页。
SJ_T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分_测量方法.pdf