SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法:本标准为SJ/T 11394-2009，标准的中文名称为半导体发光二极管测试方法，标准的英文名称为Measure methods of semiconductor light emitting diodes，本标准在2009-11-17发布，在2010-01-01开始实施。
本标准规定了半导体发光二极管(以下简称器件)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管、紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。
本标准文件共有32页。
SJ_T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法.pdf