SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算:石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算（SJ/T 11210-1999），该标准的归口单位为电子工业部标准化研究所，英文名为Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 4:Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance Rland the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz。
石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算（SJ/T 11210-1999）是在1999-08-26发布，在1999-12-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 444-4-1998,IDT。
本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f(L)和负载谐振电阻R(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC 122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△f(L),频率牵引范围△f(L1L2)和牵引灵敏度S。本方法采用的是测量串联谐振频率f(L)和当与晶体元件串联一个负载电容C(L)时产生的f(L)的变化(即△f(L))。测量准确度主要由频率测量的准确度和负载电容校准的准确度决定。
本标准文件共有15页。
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