SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单磁性薄膜磁特性的测量方法:钇铁石榴石单磁性薄膜磁特性的测量方法（SJ/T 11207-1999），该标准的归口单位为全国磁性元件与铁氧体材料标准化技术委员会，英文名为Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films。
钇铁石榴石单磁性薄膜磁特性的测量方法（SJ/T 11207-1999）是在1999-08-26发布，在1999-12-01开始实施。
本标准规定了频率为10GHz下的钇铁石榴石(Y1G)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振绒宽△H、立方磁各向异性常数K(1)、单轴磁各向异性常数K(u)、旋磁比γ和饱和磁化强度M(a)的测量方法。本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。
本标准文件共有12页。
SJ_T 11207-1999 钇铁石榴石单磁性薄膜磁特性的测量方法.pdf