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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ_T 10901-1996 电子玻璃中二氧化锰的分析(高碘酸钾氧化法).pdf

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SJ_T 10901-1996 电子玻璃中二氧化锰的分析(高碘酸钾氧化法).pdf

 

SJ/T 10901-1996 电子玻璃中二氧化锰的分析(高碘酸钾氧化法):
电子玻璃中二氧化锰的分析(高碘酸钾氧化法)(SJ/T 10901-1996),该标准的归口单位为无,英文名为Determination of manganese dioxide in electronic glass by the potassium periodate oxidation method。
电子玻璃中二氧化锰的分析(高碘酸钾氧化法)(SJ/T 10901-1996)是在1996-11-20发布,在1997-01-01开始实施。
电子玻璃中二氧化锰的含量通常在0.001%~0.1%之间,也有少数玻璃中二氧化锰的含量超过0.1%。铬和铁干扰锰的测定。为了消除铬的干扰,当铬含量低于0.01%时,在525nm波长处测定吸收度,铬含量高于0.01%时,则在545nm处测定,铁含量不高时其干扰可以忽略,如果氧化铁含量超过0.5%,可以在试剂空白液中加入相同量的铁以抵消试样中铁的干扰。
本标准文件共有2页。

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