SJ 20400-1994 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法:本标准为SJ 20400-1994，标准的中文名称为低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法，标准的英文名称为Methods of near. field measurement for planar waveguide -- fed slot arrays with low sidelobes，本标准在1994-09-30发布，在1994-12-01开始实施。
本标准规定了低副瓣平板裂缝天线(以下简称天线)性能的平面近场测试方法。本标准适用于频率从3GHz到18GHz,副瓣电平劣于-35dB的线极化平板裂缝天线性能的近场测试。相邻波段及其它形式面天线也可参照使用。
本标准文件共有18页。
SJ 20400-1994 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法.pdf