SJ/T 10436-1993 半导体电阻应变计空白详细规范评定水平E:本标准为SJ/T 10436-1993，标准的中文名称为半导体电阻应变计空白详细规范评定水平E，标准的英文名称为Blank detail specification for the semiconductor resistance strain gage Assessment level E，本标准在1993-12-17发布，在1994-06-01开始实施。
空白详细规范是总规范的一种补充性文件,并包括详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,则不能认为是符合电子元器件质量评定体系要求的标准。
本标准文件共有8页。
SJ_T 10436-1993 半导体电阻应变计空白详细规范评定水平E.pdf