SJ/T 10435-1993 半导体电阻应变计总规范:本标准为SJ/T 10435-1993，标准的中文名称为半导体电阻应变计总规范，标准的英文名称为General specification for the semiconductor resistance strain gage，本标准在1993-12-17发布，在1994-06-01开始实施。
本标准规定了半导体电阻应变计的基本技术要求,质量评定程序和试验方法。本标准适用于以半导体压阻效应为基本原理而制造的半导体电阻应变计,包括体型应变计、扩散型半桥应变计、扩散型全桥(如硅膜片、硅梁、硅柱等)应变计(以下简称应变计)。
本标准文件共有16页。
SJ_T 10435-1993 半导体电阻应变计总规范.pdf