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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ_T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则.pdf

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SJ_T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则.pdf

 

SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则:
本标准为SJ/T 10458-1993,标准的中文名称为俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则,标准的英文名称为Standard guide for specimen handling in auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy,本标准在1993-12-17发布,在1994-06-01开始实施。
该标准采用了标准ASTM E-1087,MOD。
本标准导则适用于俄歇电子能谱术(AES)和X射线光电子能谱术(XPS),也适用于其他表面灵敏分析技术(如离子散射谱术、二次离子质谱术等)。本标准导则可能涉及有害的操作、设备及物质,但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前,应该制定适当的安全与保健措施,并确定本导则的应用范围。
本标准文件共有10页。

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