JJG (核工) 16-1991 用栅网电离室标准装置测定α平面源的表面发射率检定方法:用栅网电离室标准装置测定α平面源的表面发射率检定方法（JJG (核工) 16-1991），该标准的归口单位为国防科工委放射性计量一级站，英文名为Verification Regulation of Measuring Surface Emission Rate of Alpha Plate Source by Grid Ionization Chamber。
用栅网电离室标准装置测定α平面源的表面发射率检定方法（JJG (核工) 16-1991）是在1991-05-01发布，在1991-07-01开始实施。
本规程适用于栅网电离室测定。平面源的表面发射率。α平面源衬底的直径φ20－φ25mm,活性区直径φ5-φl6mm,表面发射率1-5×103粒子数/2π·秒。表面发射率总不确定度小于3％(3σ)。
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