SJ/Z 2926-1988 集成电路制版设备性能测试方法:集成电路制版设备性能测试方法（SJ/Z 2926-1988），该标准的归口单位为无，集成电路制版设备性能测试方法（SJ/Z 2926-1988）是在1988-03-10发布，在1988-10-01开始实施。
本指导性技术文件适用于自动刻(绘)图机、图形发生器、精缩照相机三类光学制版设备主要性能测试方法。测试目的在于检查设备的技术性能指标是否达到原设计或使用要求。本指导性技术文件未规定的性能测试方法,应在各类设备技术文件中另行规定。
本标准文件共有19页。
SJ_Z 2926-1988 集成电路制版设备性能测试方法.pdf