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SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法.pdf

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SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法:

半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法（SJ 2658.6-1986），该标准的归口单位为无，半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法（SJ 2658.6-1986）是在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
它在2016-04-01作废。被标准SJ/T 2658.6-2015替代。
本标准适用于红外发光二极管输出光功率的测试。
本标准文件共有2页。

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