SJ 2658-1986 半导体红外发光二极管测试方法:本标准为SJ 2658-1986,标准的中文名称为半导体红外发光二极管测试方法,标准的英文名称为Method of measurement for semiconductor infrared diodes,本标准在1986-01-21发布,在1986-10-01开始实施。
该标准采用了标准IEC及日,美标准,NEQ。
本标准适用于半导体红外发光二极管光电参数的测试,其光电参数的测试按相应的标准和技术条件的规定进行。
本标准文件共有22页。