SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法:半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法（SJ 2658.11-1986），该标准的归口单位为无，半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法（SJ 2658.11-1986）是在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
它在2016-04-01作废。被标准SJ/T 2658.11-2015替代。
本标准适用于半导体红外发光二极管脉冲响应特性的测试。
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