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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则.pdf

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SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则.pdf

 

SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则:
本标准为SJ 2658.1-1986,标准的中文名称为半导体红外发光二极管测试方法 总则,本标准在1986-01-21发布,在1986-10-01开始实施。
本标准作废日期为2016-04-01。被标准SJ/T 2658.1-2015替代。
本标准适用于半导体红外发光二极管光电参数的测试,其光电参数的测试按相应的标准和技术条件的规定进行。
本标准文件共有2页。

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