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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则.pdf

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SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则.pdf

 

SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则:
本标准为SJ 2214.1-1982,标准的中文名称为半导体光敏管测试方法总则,本标准在1982-11-30发布,在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏器件光电参数的测试。
本标准文件共有2页。

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