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标准规范网 下载中心 行业标准 【SJ】电子行业标准 SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法.pdf

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SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法.pdf

 

SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法:
半导体光敏三极管饱和压降的测试方法(SJ 2214.7-1982),该标准的归口单位为无,半导体光敏三极管饱和压降的测试方法(SJ 2214.7-1982)是在1982-11-30发布,在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏三极管饱和压降V(CE(sat))的测试。
本标准文件共有1页。

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