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SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法.pdf

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SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法:

本标准为SJ 2214.9-1982，标准的中文名称为半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏二、三极管脉冲上升、下降时间t(r)、t(f)的测试。
本标准文件共有1页。

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