JB/T 8271-1999 静电复印感光体表面缺陷测试版:本标准为JB/T 8271-1999，标准的中文名称为静电复印感光体表面缺陷测试版，标准的英文名称为Test chart for surface defect of photoconductor for electrostatic copying process，在2000-01-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准JB/T 8271-2015替代。
本标准规定了静电复印感光体表面缺陷测试版的技术要求、试验方法、检驴规则及对标志、包装、运输、贮存的要求。本标准适用于检查静电复印感光体(硒鼓、硫化镉鼓、有机光导体鼓、无定形硅鼓、氧化锌版等)的外观质量及背景印迹的静电复印感光体表面缺陷测试版(以下简称缺陷版)。其使用见附录A(参考件)。
本标准文件共有6页。
JB_T 8271-1999 静电复印感光体表面缺陷测试版.pdf