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JB_T 13686-2019 光栅编码器加速寿命试验方法.pdf

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JB/T 13686-2019 光栅编码器加速寿命试验方法:

光栅编码器加速寿命试验方法（JB/T 13686-2019），英文名为Grating encoders-Accelerated life tests methods。
光栅编码器加速寿命试验方法（JB/T 13686-2019）是在2019-08-02发布，在2020-04-01开始实施。
本标准规定了光栅编码器的加速寿命试验方法的术语和定义、加速寿命试验方法、寿命评估等。
本标准适用于光栅编码器的加速寿命试验。
本标准文件共有7页。

标准封面截图：
JB/T 13686-2019 光栅编码器加速寿命试验方法

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