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SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法.pdf

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SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法:

本标准为SJ 21160-2016，标准的中文名称为微波组件低气压检漏试验方法，标准的英文名称为Low pressure leak detection test method for microwave assembly，本标准在2016-12-14发布，在2017-03-01开始实施。
本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。本标准适用于频率大于300 MHz的微波组件密封性能的检测。
本标准文件共有8页。

标准封面截图：
SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法

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