JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范:光栅式测微仪校准规范(JJF 1682-2017),该标准的归口单位为全国几何量工程参量计量技术委员会,英文名为Calibration Specification for Grating Micrometers。
光栅式测微仪校准规范(JJF 1682-2017)是在2017-11-20发布,在2018-05-20开始实施。
本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0. 5μm级行程为0~50mm、1μm级~10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。
本标准文件共有25页。