GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片:薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片（GB/T 14620-1993），该标准的归口单位为工业和信息化部（电子），英文名为Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits。
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片（GB/T 14620-1993）是在1993-09-03发布，在1993-12-01开始实施。
它在2014-04-15作废。被标准GB/T 14620-2013替代。
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。
本标准文件共有5页。
GB_T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片.pdf