扫描电子显微镜分析方法通则（JY/T 0584-2020），英文名为General rules of analytical methods for scanning electron microscope。
扫描电子显微镜分析方法通则（JY/T 0584-2020）是在2020-09-29发布，在2020-12-01开始实施。
本标准规定了扫描电子显微镜（scanning electron microscope，以下简称扫描电镜或SEM）的分析方法原理、环境条件指标、仪器、样品、分析测试、结果报告、仪器维护和安全注意事项。
本标准适用于利用各类扫描电镜进行的微观形貌、微区成分和结构分析等。
本标准文件共有15页。
JY_T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则.pdf