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GB_T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法.pdf

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GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法:

半导体集成电路霍尔电路测试方法（GB/T 42838-2023），英文名为Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit。
半导体集成电路霍尔电路测试方法（GB/T 42838-2023）是在2023-08-06发布，在2023-12-01开始实施。
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
本标准文件共有14页。

标准封面截图：
GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法

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