标准规范网 › 下载中心 › 地方标准 › 【DB51】四川省地方标准 › DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf

版块导航

DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf

打开方式: Adobe Reader
资料大小: 542.36 KB
上传时间: 2024-12-27
下载 DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf

DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范:

本标准为DB51/T 3207-2024，标准的中文名称为集成电路测试用微波探针应用规范，适用地区为四川省，所属行业为制造业，本标准在2024-12-03发布，在2024-12-29开始实施。
本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
本标准文件共有10页。

下载 DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

版块导航

热门下载

DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf