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标准规范网 下载中心 国家标准 【GB】国家标准 GB_T 42895-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法.pdf

GB_T 42895-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法.pdf

 

GB/T 42895-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法:
《微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法》(GB/T 42895-2023),该标准的归口单位为国家标准委,英文名为Micro-electromechanical systems(MEMS)technology—Bending strength test method for microstructures of silicon based MEMS。
《微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法》(GB/T 42895-2023)是在2023-08-06发布,在2023-12-01开始实施。
本标准文件共有11页。


标准封面截图:
GB/T 42895-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法

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