本标准为GB/T 24582-2023，标准的中文名称为多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法，标准的英文名称为Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method，本标准在2023-08-06发布，在2024-03-01开始实施。
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GB_T 24582-2023 多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法.pdf