YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法:本标准为YS/T 1160-2016，标准的中文名称为工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法，标准的英文名称为Silicon powder-quantitative phase analysis. Determination of silicon dioxide content. Value K method of X-ray diffraction，本标准在2016-07-11发布，在2017-01-01开始实施。
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。
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