JB/T 12457-2015 无损检测仪器 线路板检测用X射线检测仪性能试验方法:本标准为JB/T 12457-2015，标准的中文名称为无损检测仪器 线路板检测用X射线检测仪性能试验方法，标准的英文名称为Non-destructive testing instruments. Testing method of X-ray delector for circuit board detection，本标准在2015-10-10发布，在2016-03-01开始实施。
本标准规定了线路板检测用X射线检测仪(以下简称检测仪)的技术要求和试验方法。本标准适用于对多层印制电路板定位孔的观察和参数测量,也可对图像进行包括圆心位置、点与点的距离、区域面积等进行测量的X射线检查机。
本标准文件共有9页。
JB_T 12457-2015 无损检测仪器 线路板检测用X射线检测仪性能试验方法.pdf