JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法:本标准为JB/T 8268-2015,标准的中文名称为静电复印光导体表面缺陷测量方法,标准的英文名称为Test method of surface defect for photoconductor of
electrostatic copying process,本标准在2015-04-30发布,在2015-10-01开始实施。
本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
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