SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法:本标准为SJ/T 11500-2015,标准的中文名称为碳化硅单晶晶向的测试方法,标准的英文名称为Test method for measuring crystallographic orientation of monocrystalline silicon carbide,本标准在2015-04-30发布,在2015-10-01开始实施。
本标准规定了利用X射线衍射定向法测定碳化硅单晶晶向的方法。本标准适用于晶型为6H和4H的碳化硅单晶的晶向测定。
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