SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法:本标准为SJ/T 2214-2015，标准的中文名称为半导体光电二极管和光电晶体管测试方法，标准的英文名称为Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor，本标准在2015-04-30发布，在2015-10-01开始实施。
本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称"器件")光电参数的测试方法。本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。
本标准文件共有25页。
SJ_T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法.pdf