JC/T 2149-2012 高纯碳化硅粉体成分分析方法:高纯碳化硅粉体成分分析方法（JC/T 2149-2012），该标准的归口单位为全国工业陶瓷标准化技术委员会功能陶瓷分技术委员会，英文名为Method for constitution analysis of high purity silicon carbide。
高纯碳化硅粉体成分分析方法（JC/T 2149-2012）是在2012-12-28发布，在2013-06-01开始实施。
本标准规定了高纯碳化硅粉体中二氧化硅、游离硅、游离碳、铝、砷、钙、铬、铜、铁、钾、镁、锰、钠、镍、铅、钛、锌等的测定方法。本标准适用于碳化硅含量范围为99.9%～99.99%的碳化硅粉体中二氧化硅、游离硅、游离碳、铝、砷、钙、铬、铜、铁、钾、镁、锰、钠、镍、铅、钛、锌等的测定。
本标准文件共有9页。
JC_T 2149-2012 高纯碳化硅粉体成分分析方法.pdf