GB/Z 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜):八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜)（GB/Z 26083-2010），该标准的归口单位为全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会，英文名为Determination for Copper (II) octaalkoxyl-substituted phthalocyanine on graphite surface (scanning tunneling microscope)。
八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜)（GB/Z 26083-2010）是在2011-01-10发布，在2011-10-01开始实施。
它在2017-12-15作废。本指导性技术文件规定了利用扫描隧道显微镜检测八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的原理、术语及定义、探针和基底制备、样品制备、测试条件、测试步骤、图像分析以及结果表示等。本指导性技术文件适用于在常温(10℃～35℃）和1个大气压环境条件下,用扫描隧道显微镜测试八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面的吸附结构。
本标准文件共有6页。
GB_Z 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜).pdf